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BK4050B 双通道函数/任意波形发生器
在电子测试与测量领域，一款性能稳定、功能全面的函数/任意波形发生器是研发、教育、生产等场景中不可或缺的核心设备。BK4050B双通道函数/任意波形发生器凭借其高
BK4050B 双通道函数/任意波形发生器的详细资料
在电子测试与测量领域，一款性能稳定、功能全面的函数/任意波形发生器是研发、教育、生产等场景中不可或缺的核心设备。BK4050B双通道函数/任意波形发生器凭借其高精度的信号输出、丰富的调制功能以及便捷的操作体验，成为满足多场景测试需求的优选仪器。该不仅能生成正弦、方波、三角形、脉冲等常规波形，还支持自定义任意波形，同时具备双通道独立控制与同步协作能力，可适配从基础电路验证到复杂信号模拟的各类应用，为用户提供高效、可靠的测试解决方案。
BK4050B双通道函数/任意波形发生器包含4053B、4054B、4055B三个机型，核心差异体现在正弦波与方波的频率范围上，4053B覆盖1μHz–10MHz，4054B为1μHz–30MHz，4055B则拓展至1μHz–60MHz，可根据不同测试场景对频率的需求灵活选型。三款机型均配备14位垂直分辨率、150MSa/s采样率的任意波形发生器，单通道支持16k点波形长度，能精准还原复杂信号细节，满足高保真度测试要求。
机型 | 4053B | 4054B | 4055B |
正弦波&方波频率范围 | 1 µHz – 10 MHz | 1 µHz – 30 MHz | 1 µHz – 60 MHz |
在通道功能方面，该采用双独立通道设计，每通道均配备单独的输出开/关按钮，支持通道复制、跟踪与组合三大核心协作功能。通道复制功能可通过单键操作，将一个通道的波形参数（如频率、振幅、相位、直流偏移等）快速复制到另一通道，大幅缩短双通道同步设置时间；通道跟踪功能允许用户基于频率、振幅、相位偏差比建立通道间的耦合关系，启用后CH1与CH2会根据预设比例自动调整参数，适用于需要保持信号关联性的测试场景；通道组合功能则能通过内部算法将两通道波形叠加，在CH1或CH2单一通道输出组合后的复杂波形，无需额外外部设备即可实现多信号合成。此外，仪器支持一键同步两通道相位，还可通过前面板手动微调相位差值，确保双通道信号在时间维度上的精准匹配，这一特性在差分信号测试、多通道协同激励等场景中尤为重要。
波形生成能力上，BK4050B覆盖常规波形与自定义波形两大类别。常规波形包括正弦波、方波、三角形、脉冲波等，其中方波具备低抖动特性，可模拟可靠的时钟信号、生成触发信号或验证串行数据总线，其上升/下降时间最快可达6.5ns（典型值），周期间抖动低至300ps+0.00ppm周期（典型值），能满足高速数字电路对时钟信号稳定性的严苛要求；脉冲波支持32ns最小脉冲宽度、16.8ns最小上升/下降时间（1Vpp，50Ω负载），且占空比可在0.001%–99.999%范围内连续可调，适配不同脉冲宽度与占空比的电路响应测试。自定义波形方面，仪器内置196个预定义任意波形（含直流信号），同时配备约100MB闪存，可存储超过1000个用户定义的16k点任意波形，用户可通过配套的波形编辑软件，以徒手绘制或数学函数计算的方式生成个性化波形，也可借助LabVIEW™驱动程序直接将.csv或.txt格式的波形数据加载至仪器，无需依赖波形编辑软件，简化自定义波形的生成与导入流程。
调制与扫描功能是BK4050B的核心优势之一，仪器支持AM（振幅调制）、FM（频率调制）、DSB-AM（双边带振幅调制）、ASK（振幅键控）、FSK（频率键控）、PM（相位调制）、PSK（相移键控）、PWM（脉宽调制）等多种调制类型，可模拟通信系统、传感器等设备中的信号调制过程，用于验证接收端的解调性能。扫描功能涵盖线性与对数两种扫描方式，支持向上或向下扫描方向，扫描时间可在1ms–500s范围内设置，扫描触发源可选内部、外部或手动，适用于频率响应测试、滤波器特性分析等场景。此外，仪器还具备Gate（门控）和Burst（突发）模式，Gate模式可通过外部或内部门控信号控制波形输出的开启与关闭，Burst模式支持1–1000000个周期的波形突发输出，且起始/停止相位可在0°–360°调整，可模拟间歇性信号传输场景，如雷达信号、脉冲通信信号等。
在操作与接口设计上，BK4050B波型产生器配备4.3英寸大型液晶彩色显示屏，界面清晰直观，配合带数字键盘、旋钮与光标键的菜单驱动式前面板，用户可快速调整波形参数（如直接通过数字键盘输入频率、振幅数值，或通过旋钮微调）。前面板还设有专用的波形选择键、通道选择键与功能键（调制、扫描、脉冲等），进一步提升操作效率。接口方面，仪器标配LAN接口、USB设备端口（符合USBTMC标准）与前面板USB主机端口，USB主机端口支持连接USB闪存驱动器，用于快速保存/调用仪器设置与波形文件；LAN接口可实现远程控制与数据传输，适配自动化测试系统；此外，仪器提供可选的USB转GPIB适配器（AK40G型号），可扩展GPIB接口，满足传统测试系统的兼容性需求。仪器还内置频率计数器，支持频率、时间、占空比、正负脉冲宽度等参数的测量，测量范围为100mHz–200MHz，无需额外配置计数器即可完成信号参数的同步测量，简化测试系统搭建。
输出特性方面，BK4050B两通道的输出振幅范围均为2mVpp–10Vpp（50Ω负载），开路时最高可达20Vpp（≤10MHz频率下），当频率超过10MHz时，输出振幅范围变为2mVpp–5Vpp（50Ω负载）、4mVpp–10Vpp（开路），振幅分辨率最高可达4位，振幅精度（10kHz正弦波）为±(1%+1mVpp)，振幅平坦度（参考10kHz、2.5Vpp、50Ω负载）为±0.3dB，确保输出信号振幅的准确性与稳定性。直流偏移范围为±5V（50Ω负载）、±10V（开路），偏移分辨率最高4位，偏移精度为±(|偏移设置值|×1%+3mV)，可根据测试需求为信号叠加直流偏移，模拟实际电路中的偏置电压环境。输出端具备短路保护功能，可防止因输出短路导致仪器损坏，提升使用安全性。
BK4050B的测试原理基于直接数字合成（DDS）技术与信号调理电路的协同工作。DDS技术通过相位累加器、波形存储器、数模转换器（DAC）与低通滤波器实现高精度波形生成：相位累加器根据设定频率与采样时钟，产生连续的相位地址；波形存储器根据相位地址输出对应的数字幅度值；DAC将数字幅度值转换为模拟信号；低通滤波器滤除DAC输出中的高频杂波，得到平滑的模拟波形。对于任意波形，仪器通过读取用户导入或内置的波形数据（16k点），按照150MSa/s的采样率依次输出数据至DAC，实现自定义波形的还原。双通道同步则通过共享10MHz参考时钟实现，仪器标配10MHz参考时钟输入与输出端口，可与其他仪器（如示波器、另一台函数发生器）连接，确保多设备间的时基同步，减少信号相位偏差。调制功能通过将调制信号（内部生成或外部输入）与载波信号进行运算（如振幅相乘、频率叠加、相位偏移等）实现，例如AM调制中，载波振幅随调制信号幅度变化；PWM调制中，载波脉冲宽度随调制信号幅度变化。扫描功能则通过控制相位累加器的步长随时间线性或对数变化，实现输出频率的连续扫描，进而完成频率响应等测试。
机型 | 4053B | 4054B | 4055B |
通道数 | 2 | ||
频率特性 | |||
正弦&方波 | 1 µHz – 10 MHz | 1 µHz – 30 MHz | 1 µHz – 60 MHz |
三角波 | 1 µHz – 500 kHz | ||
脉波 | 1 µHz – 12.5 MHz | ||
噪声(-3 dB) | > 60 MHz | ||
任意波 | 1 µHz – 6 MHz | ||
精度 | ± 25 ppm (1 年) | ||
分辨率 | 1 µHz | ||
任意波特性 | |||
内置波形 | 196 内置波形 (含 DC) | ||
波形、长度 | 16k 点 / Ch | ||
垂直分辨率 | 14 bits | ||
取样率 | 150 MSa/s (DDS 模式) , 30 MSa/s (真任意波模式) | ||
Min.上升/下降时间 | 6.5 ns (典型值) | ||
振动 (pk-pk) | 8 ns (典型值) | ||
内置存储 | > 1000 16k 点波形(系统内 100 MB) | ||
输出特性 | |||
振幅范围 | 2 mVpp – 10 Vpp into 50 Ω (4 mVpp – 20 Vpp into open circuit), ≤ 10 MHz 2 mVpp – 5 Vpp into 50 Ω (4 mVpp – 10 Vpp into open circuit), > 10 MHz | ||
振幅分辨率 | up to 4 digits | ||
振幅精度(10 kHz Sine) | ± (1 % + 1 mVpp) | ||
振幅平坦度 | ± 0.3 dB (参考 10 kHz, 2.5 Vpp, 50 Ω 负载) | ||
串音 | < -60 dBc (两通道设置为 0 dBm, 正弦 50 Ω 负载) | ||
偏移范围(DC) | ± 5 V into 50 Ω (± 10 V into open circuit) | ||
偏移分辨率 | up to 4 digits | ||
偏移精度 | ± ( |偏移设置值| x 1% + 3 mV) | ||
通道输出阻抗 | 50 Ω, 高阻抗 | ||
输出保护 | 短路保护 | ||
波形特性(正弦,方波,三角波,锯齿波) | |||
谐波失真(正弦) | DC – 10 MHz, < - 60 dBc / 10 MHz – 30 MHz < -45 dBc / 30 MHz – 60 MHz, < - 40 dBc (0 dBm 输入信号) | ||
总谐波失真(正弦) | 10 Hz – 20 kHz at 0 dBm, < 0.15% | ||
杂散（非谐波） | DC – 10 MHz, < -65 dBc / 10 MHz – 30 MHz, < -55 / 30 MHz – 60 MHz, < -40 (0 dBm 输入信号) | ||
上升/下降时间(方波) | < 4.2 ns (10 % – 90 %, at 1Vpp into 50 Ω) | ||
可变周期(方波) | 0.001% - 99.999% (按频率设置) | ||
不对称（50%占空比） | 1% of period + 20 ns (典型值,1 kHz, 1 Vpp) | ||
抖动（rms）周期间(方波) | 300 ps + 0.00 ppm of period (典型值, 1 kHz, 1 Vpp) | ||
斜坡对称性 | 0% – 100% | ||
线性（三角形，1kHz 锯齿 波，1Vpp，100%对称） | 峰值< 1% (典型值) | ||
BK4050B双通道函数波形发生器凭借其全面的功能、精准的信号输出与便捷的操作设计，广泛适用于教育实验、研发验证、生产测试等领域。在教育场景中，其直观的界面与丰富的波形、调制功能可帮助学生理解信号生成与调制原理；在研发场景中，低抖动、高保真的信号输出能满足高速电路、通信模块等设备的性能验证需求；在生产测试场景中，快速的参数设置、通道协作功能与自动化接口，可提升测试效率与一致性。无论是基础的波形输出，还是复杂的信号模拟与调制测试，该仪器都能为用户提供可靠、高效的解决方案，是电子测试领域的重要工具。
作为一款兼顾性能与实用性的测试仪器，BK4050B不仅满足了当前多数电子设备的测试需求，其灵活的扩展接口与可定制化的波形功能，还为未来更复杂的测试场景预留了适配空间。对于追求高性价比、多场景适配的用户而言，该仪器能够以合理的成本实现高精度、多功能的信号生成与测试，有效降低测试系统搭建成本，提升测试效率与准确性，为电子领域的教学、研发与生产工作提供有力支持。
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